Logo
Logo

Термическое оксидирование

Разбалловка

A1  0.20 Покажите, что тангенциальные компоненты волновых векторов не изменяются на границе диэлектрик-диэлектрик: $k_{1y}=k_{2y}=k_{3y}$.

1 Корректное доказательство с указанием на выполнение граничных условий в любой точке поверхности. 0.20
А2  0.40 Найдите выражения для $k_{1x}$, $k_{2x}$ и $k_{3x}$. Выразите через $\omega$, $c$, $\theta_1$, $\varepsilon_1$, $\varepsilon_2$, $\varepsilon_3$.

0 Указывается или используется постоянство частоты при переходе через границу сред 0.10
2 Получен ответ $k_{1x} = \dfrac{\sqrt{\varepsilon_1} \omega}{c} \cos\theta_1$. 0.10
3 Получены ответы:
$$k_{2x}=\cfrac{\omega}{c}\sqrt{\varepsilon_2-\varepsilon_1\sin^2{\theta_1}},\\
k_{3x}=\cfrac{\omega}{c}\sqrt{\varepsilon_3-\varepsilon_1\sin^2{\theta_1}}.$$
2 × 0.10
A3  0.60 Для волны с $s$ поляризацией (электрическое поле направлено вдоль поверхности) из граничных условий на тангенциальные компоненты полей получите систему линейных уравнений на коэффициенты $r$, $a$, $b$ и $t$.

1 Четыре верных линейно независимых уравнения, полученных из граничных условий:
\[
\begin{cases}
1+r=a+b,\\
k_{1x}(1-r)=k_{2x}(a-b), \\
ae^{i k_{2x}d}+be^{-i k_{2x}d}=t,\\
k_{3x}t=k_{2x}(ae^{i k_{2x}d}-be^{-i k_{2x}d}).
\end{cases}
\]
4 × 0.15
A4  0.60 Найдите коэффициент отражения. Приведите ответ к виду:
\[ r_s = \frac{A +B e^{2i k_{2x}d}}{AB + e^{2i k_{2x}d}}.\]Вещественные числа $A$, $B$ выразите через $k_{1x}$, $k_{2x}$, $k_{3x}$.

1 Получены верные ответы для коэффициентов:
$$A = \dfrac{k_{2x} + k_{3x}}{k_{2x} - k_{3x}},\\
B = \dfrac{k_{1x} + k_{2x}}{k_{1x} - k_{2x}}.$$
2 × 0.30
A5  0.60 Для волны с $p$ поляризацией (магнитное поле направлено вдоль поверхности) из граничных условий на тангенциальные компоненты полей получите систему линейных уравнений на коэффициенты $r$, $a$, $b$ и $t$.

1 Четыре верных линейно независимых уравнения, полученных из граничных условий:
\[
\begin{cases}
1+r=a+b,\\
\kappa_{1x}(1-r)=\kappa_{2x}(a-b), \\
ae^{i k_{2x}d}+be^{-i k_{2x}d}=t,\\
\kappa_{3x}t=\kappa_{2x}(ae^{i k_{2x}d}-be^{-i k_{2x}d}).
\end{cases}
\]
4 × 0.15
A6  0.60 Найдите коэффициент отражения. Приведите ответ к виду:
\[ r_p = \frac{A +B e^{2i k_{2x}d}}{AB + e^{2i k_{2x}d}}.\]Вещественные числа $A$, $B$ выразите через $\kappa_{1x}$, $\kappa_{2x}$, $\kappa_{3x}$.

1 Получены верные ответы для коэффициентов:
$$A = \dfrac{\kappa_{2x} + \kappa_{3x}}{\kappa_{2x} - \kappa_{3x}},\\
B = \dfrac{\kappa_{1x} + \kappa_{2x}}{\kappa_{1x} - \kappa_{2x}}.$$
2 × 0.30
A7  1.50 С помощью программы A.py постройте графики зависимости $\Psi$ и $\Delta$ от $\lambda$ при разных углах падения $\theta_1$ и толщинах $d$. Проведите количественное исследование и определите, при каком угле падения $\theta_\text{opt}$ эллипсометрический угол $\Psi$ наиболее чувствителен (наибольшее значение $|\Delta \Psi/\Delta d|$) к изменениям $d$ в диапазоне от $10 нм$ до $50нм$. Найдите значение $\theta_\text{opt}$ с точностью до градуса.

Начиная с пункта B3, для повышения точности используйте $\theta_{opt}$ в качестве $\Phi$ .

0 Предложен корректный метод измерения чувствительности эллипсометрического угла $\Psi$. При этом явно указаны измеряемые величины. 0.30
2 M1 Приведены результаты количественного исследования (графики или таблица прямых измерений) для разных $\theta$. При этом для каждого $\theta$ должно быть не менее двух измерений с различными $d < 50 \text{ нм}$. Серия измерений для каждого $\theta$ оценивается в $0.1$ балла. 5 × 0.10
3 M2 Приведены графики (сохранены в папку "report"). Графики для каждого $\theta$ оцениваются в $0.05$ балла. 5 × 0.05
7 Полученное значение попадает в узкие ворота $\theta_{opt}\in [75^{\circ}, 79^{\circ}]$ 0.70
8 Полученное значение попадает в широкие ворота $\theta_{opt}\in [70^{\circ}, 80^{\circ}]$ 0.40
9 Полученное значение $\theta_{opt} \geqslant 60^\circ$. 0.20
10 Полученное значение $\theta_{opt} < 60^\circ$. 0.00
B1  0.70 С помощью программы B1.py подберите вручную значение $\Phi$ и толщины $d$ пленки $\rm SiO_2$. Программа B1.py автоматически считывает значения из файла B1.txt и выводит аппроксимирующий график $\Psi,\Delta$ от $\lambda$, для введенных вами значений угла $\Phi$ в градусах и толщины $d$ пленки диоксида в нанометрах. Для входных данных заложены ограничения $20\,^\circ \leq \Phi \leq 80\,^\circ$, $d \leq 250~\text{нм}$.

1 Описан метод нахождения оптимальных $\Phi$ и $d$. 0.30
2 Полученное $\Phi$ попадает в интервал $[70^\circ, 72^\circ]$. 0.20
3 Полученное $\Phi$ попадает в интервал $[69^\circ, 73^\circ]$. 0.10
4 Полученное $\Phi$ не попадает в интервал $[69^\circ, 73^\circ]$. 0.00
6 Полученное $d$ попадает в интервал $[66, 68] \: {\rm нм}$. 0.20
7 Полученное $d$ попадает в интервал $[65, 69] \: {\rm нм}$. 0.10
8 Полученное $d$ не попадает в интервал $[65, 69] \: {\rm нм}$. 0.00
B2  0.70 С помощью программы B2.py подберите вручную значение $\Phi$ и толщины $d$ пленки $\rm SiO_2$. Программа работает аналогично предыдущему пункту.

1 Полученное $\Phi$ попадает в интервал $[56^\circ, 58^\circ]$. 0.35
2 Полученное $\Phi$ попадает в интервал $[55^\circ, 59^\circ]$. 0.15
3 Полученное $\Phi$ не попадает в интервал $[55^\circ, 59^\circ]$. 0.00
4 Полученное $d$ попадает в интервал $[231, 233] \: {\rm нм}$. 0.35
5 Полученное $d$ попадает в интервал $[230, 234] \: {\rm нм}$. 0.15
6 Полученное $d$ не попадает в интервал $[230, 234] \: {\rm нм}$. 0.00
B3  0.30 Получите данные для зависимости толщины пленки $d$ диоксида кремния от времени $t$ при окислении при температуре $t=1000\,^\circ\text{C}$ в течение $120~\text{мин}$. Приложите полученный с помощью программы B.py график к отчету.

1 Приложен верный график. 0.30
B4  0.30 Выразите скорость $v$ изменения толщины пленки через скорость реакции окисления $F_3$, молярную массу $\mu_{\rm SiO_2}$ и плотность $\rho_{\rm SiO_2}$ диоксида кремния. Считайте, что граница воздух-диоксид неподвижна.

1 Получено выражение $\Delta m = F_3 \, \Delta t \, S \, \mu_{\rm SiO_2}$ для массы окисленного ${\rm Si}$. 0.10
2 Получено выражение $\Delta m = \rho_{\rm SiO_2} \, S \, v \, \Delta t$ для массы появившегося ${\rm SiO_2}$. 0.10
3 Верный ответ $v= F_3\frac{\mu_{\rm SiO_2}}{\rho_{\rm Si O_2}}$. 0.10
B5  0.50 Считая задачу псевдостационарной (времена установления всех процессов гораздо меньше времени нарастания пленки), выразите $C_0$ и $C_i$ через $C^*$, константы скорости $h$, $k$, $D$ и толщину пленки $d$.

1 Использованы условия стационарности $F_1 = F_2 = F_3$ (по $0.10$ за каждое условие). 2 × 0.10
2 Верный ответ \[ C_0 = C^* \frac{1 + \frac{kd}{D} }{1 + \frac{k}{h} + \frac{kd}{D}} \] 0.15
3 Верный ответ \[ C_i = C^* \frac{1}{1 + \frac{k}{h} + \frac{kd}{D}} \] 0.15
B6  0.50 Получите дифференциальное уравнение для толщины $d$ пленки диоксида и получите его решение для начальных условий $d(t_0)=d_0$ в виде
\[ d^2 + Ad = B(t + \tau),\]где $\tau$ содержит в себе информацию о начальных условиях, а константы $A$ и $B$ связаны с кинетикой окисления. Выразите $A$ и $B$ через $h$, $k$, $D$, $C^*$, $\mu_{\rm SiO_2}$ и $\rho_{\rm SiO_2}$.

1 Использовано выражение $\dot d = \frac{F_3 \mu_{\rm SiO_2}}{\rho_{\rm SiO_2}} = \frac{k C_i \mu_{\rm SiO_2}}{\rho_{\rm SiO_2}}$. 0.05
2 Верно записано дифференциальное уравнение $\frac{\dot d \cdot d }{D} + \dot d \cdot \left ( \frac{1}{k} + \frac{1}{h} \right) - C^* \frac{\mu_{\rm SiO_2}}{\rho_{\rm Si O_2}} = 0$. 0.15
3 Верно проинтегрирована левая часть дифференциального уравнения и получено выражение \[\frac{d^2}{2D} + d \cdot \left ( \frac{1}{k} + \frac{1}{h} \right) - t \cdot C^* \frac{\mu_{\rm SiO_2}}{\rho_{\rm Si O_2}} = \text{const}\] 0.10
4 Верный ответ $A = 2D \left( \frac{1}{k} + \frac{1}{h} \right)$ 0.10
5 Верный ответ $B = 2D C^* \frac{\mu_{\rm SiO_2}}{\rho_{\rm Si O_2}}$ 0.10
B7  1.00 Получите значения параметров $B$ и $B/A$ для пяти разных температур $T$. Результаты занесите в файл B8_in.txt в виде таблицы.

1 Приведены результаты четырех дополнительных измерений (в виде таблицы в отчете или в виде файла в папке report). 4 × 0.20
2 Диапазон температур в измерениях не менее $200^\circ$. 0.20
B8  1.50 Определите значения $\Delta E_b$ и $\Delta E_a$ в электрон-вольтах. Приложите линеаризованные графики к отчету.

1 Построены графики $\ln B \left (\frac{1}{T} \right)$, $\ln \frac{B}{A} \left (\frac{1}{T} \right)$ и найдены их коэффициенты наклона (по $0.25$ баллов для каждой пары график/коэффициент). 2 × 0.25
2 Получено выражение $B \propto e^{-\frac{\Delta E_a}{k_B T}}$. 0.20
3 Ответ для $\Delta E_a$ попадает в интервал $[1.30, 1.45] \: эВ$. 0.30
4 Ответ для $\Delta E_a$ попадает в интервал $[1.25, 1.50] \: эВ$. 0.10
5 Ответ для $\Delta E_a$ не попадает в интервал $[1.25, 1.50] \: эВ$. 0.00
6 Получено выражение $\frac{B}{A} \propto e^{-\frac{\Delta E_b}{k_B T}}$. 0.20
7 Ответ для $\Delta E_b$ попадает в интервал $[1.95, 2.10] \: эВ$. 0.30
8 Ответ для $\Delta E_b$ попадает в интервал $[1.90, 2.15] \: эВ$. 0.10
9 Ответ для $\Delta E_b$ не попадает в интервал $[1.90, 2.15] \: эВ$. 0.00