| 1 Зарисована схема цепи, указаны генератор и осциллограф, их черные провода в одной точке | 0.10 |
|
| 2 Измеряется напряжение на резисторе | 0.10 |
|
| 3 Проведены измерения $f(C)$ для двух известных конденсаторов | 0.20 |
|
| 4 Проведены измерения $f(C)$ для еще минимум одной комбинации | 0.20 |
|
| 5 Записана формула $f(C)=\cfrac{1}{2\pi \sqrt{LC}}$ | 0.10 |
|
| 6 Справедливость формулы подтверждена: линеаризация, либо усреднение, либо сравнение частот с теоретическими | 0.10 |
|
| 7 $C_0 \leqslant 10~\text{пФ}\ll C_1$ и остальных данных емкостей | 0.10 |
|
| 8 Оценка погрешностей, в т.ч. погрешность определения резонансной частоты | 0.10 |
|
| 1 Зарисована схема цепи, указаны генератор и осциллограф, их черные провода в одной точке | 0.05 |
|
| 2 Измерена $f_1 \in [80; 95]~\text{кГц}$ | 0.10 |
|
| 3 Рассчитана $C_1 \in [200; 280]~\text{пФ}$ | 0.10 |
|
| 4 Оценена погрешность $C_1$ | 0.05 |
|
| 2 Форма №1: период $2w$ | 0.10 |
|
| 3 Форма №1: треугольные пики | 0.10 |
|
| 4 Форма №1: отсутствие промежутков | 0.10 |
|
| 5 Форма №1: постепенный спад фона | 0.10 |
|
| 6 Форма №2: период $3w$ | 4 × |
|
| 7 Форма №2: треугольные пики | 0.10 |
|
| 8 Форма №2: промежутки по $w$ | 0.10 |
|
| 9 Форма №2: постепенный спад фона | 0.10 |
|
| 10 Форма №3: период $3w$ | 0.10 |
|
| 11 Форма №3: параболические пики | 0.10 |
|
| 12 Форма №3: промежутки по $2w$ | 0.10 |
|
| 13 Форма №3: постепенный спад фона | 0.10 |
|
| 14 Форма №4: период $3w$ | 0.10 |
|
| 15 Форма №4: параболические пики | 0.10 |
|
| 16 Форма №4: промежутки по $w$ | 0.10 |
|
| 17 Форма №4: постепенный спад фона | 0.10 |
|
| 1 Для ящика $A$: измерения на всём диапазоне от $0$ до $100~\text{мм}$ | 0.30 |
|
| 2 Для ящика $B$: измерения на всём диапазоне от $0$ до $100~\text{мм}$ | 0.30 |
|
| 3 Для ящика $A$: все измерения с шагом $2~\text{мм}$ или чаще | 0.40 |
|
| 4 Для ящика $B$: все измерения с шагом $2~\text{мм}$ или чаще | 0.40 |
|
| 5 Для ящика $A$: число измерений не менее 50 | 0.40 |
|
| 6 Для ящика $B$: число измерений не менее 50 | 0.40 |
|
| 7 Оценка погрешности определения резонансной частоты: $\Delta f \in [0.2; 0.8] \text{кГц}$ | 0.20 |
|
| 1 Для ящика $A$: пересчет $f(x)$ в $C(x)$ | 0.05 |
|
| 2 Для ящика $B$: пересчет $f(x)$ в $C(x)$ | 0.05 |
|
| 3 Для ящика $A$: нанесение зависимости $C(x)$ на график | 0.20 |
|
| 4 Для ящика и $B$: нанесение зависимости $C(x)$ на график | 0.20 |
|
| 5 Для ящика $A$: график правильной формы, величины достоверные | 0.10 |
|
| 6 Для ящика $B$: график правильной формы, величины достоверные | 0.10 |
|
| 7 Для ящика $A$: из графика видно, что минимумы и максимумы промерены подробно | 0.05 |
|
| 8 Для ящика $B$: из графика видно, что минимумы и максимумы промерены подробно | 0.05 |
|
| 9 Ящик $A$ - форма №1 | 0.20 |
|
| 10 Ящик $B$ - форма №4 | 0.20 |
|
| 1 Ящик $A$: $w \in [11;13]~\text{мм}$ | 0.20 |
|
| 2 Ящик $A$: $b \in [70;90]~\text{мм}$ | 0.30 |
|
| 3 Ящик $B$: $w \in [14;16]~\text{мм}$ | 0.20 |
|
| 4 Ящик $B$: $b \in [50;85]~\text{мм}$ | 0.50 |
|
| 5 Оценка погрешностей величин $w$, $b$ | 0.20 |
|
| 1 Для ящика $A$: рассуждения про соотношение пиков или про габариты установки | 0.10 |
|
| 2 Для ящика $B$: рассуждения про соотношение пиков или про габариты установки | 0.10 |
|
| 3 Для ящика $A$: $N_A \in [5;7]~\text{шт.}$ | 0.20 |
|
| 4 Для ящика $B$: $N_B \in [3;4]~\text{шт.}$ | 0.20 |
|
| 1 Частота в окрестности $f=120~\text{кГц}$ реализуется при смещении пластин, например, на $44~\text{мм}$ | 0.30 |
|
| 2 Найден угловой коэффициент касательной к графику $C(x)$: $\frac{\Delta C}{\Delta x} \approx 5~\frac{\text{пФ}}{\text{мм}}$ | 0.50 |
|
| 3 Оценка минимального измеримого изменения резонансной частоты: $\Delta f \sim 0,5~\text{кГц}$ | 0.20 |
|
| 4 Финальная оценка измеримого сдвига: $\Delta x \sim 100~\text{мкм}$ | 0.50 |
|